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晶振检测电路

文章作者:深圳市聚利兴仪器有限公司    时间:2015/6/16 11:12:14

    用一般的万用表是不能测出晶振的好坏的,这里提供了一种简单而实用的晶振检验器,它只采用一个 N 沟道结型场效应管(FET),两个普通 NPN 小功率晶体三极管,一个发光管和一些阻容元件,便可有效的检验任何晶振的好坏。

   

     如图所示,2N3823 结型 N 沟道场效应管(可用任何其它型号的同类小功率场效应管,如 3DJ6,3DJ7 等)与被测晶体(晶振)等组成一个振荡器,两个两个 NPN 三极管 2N3904(也可用其它任何型号的小功率 NPN 三极管)接成复合检波放大器,驱动发光二极管 LED。若被测晶振良好时,振荡器起振,其振荡信号经 0.01uF 的电容耦合至检波放大器的输入端,经放大后驱动发光二极管发光。如果被测晶振不好,则晶振不起振,发光二极管就不发光。

   

     本装置可检验任何频率的晶振但其最佳的工作状态是在 3---10MHz 范围内。

   

    下图为电路原理图:

   

   晶振检测电路

   

   

   

    晶振测试装置,原理电路如附图所示。

   

晶振测试装置,原理电路如附图所示。

   

   

   

    图中,V1及其外围元件(包括被测晶振)共同组成一个电容三点式振荡器。当探头X1、X2两端接入被测晶振时,电路振荡。振荡信号经V2射极跟随级放大后输出,经C4耦合、D1、D2倍压整流后为V3提供偏置电流,V3导通,LED发光。若晶振不良或断路,电路则不能起振,因而LED不发光。

   

    该装置结构简单,所用元件极为普遍,而且只要元件质量良好,装配无误,不需调试即可一次成功。探头可利用两个插孔代替。也可以选用带电缆的表笔或测试棒,但引线不宜过长。该测试议可测试频率为450KHz~49MHz的各种晶振,工作电源推荐采用6V叠层电池。


       

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